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  • 2025-01-17

    反應離子刻蝕機是一種廣泛應用于微電子領域的加工設備,特別是在半導體制造過程中,RIE被用來刻蝕薄膜、材料和多層結構。其主要功能是通過反應性氣體在真空環(huán)境中引發(fā)電離、化學反應和物理刻蝕,從而精確地去除材料表面,形成所需的圖形或結構。反應離子刻蝕機的主要組成部分:1.反應腔體:RIE的核心部分,真空腔體內的樣品放置在特定位置,與氣體反應并被刻蝕。2.氣體源系統(tǒng):提供反應性氣體或刻蝕氣體,通常包括氟化氫(HF)、氯化氫(Cl2)、氧氣(O2)、氮氣(N2)等。不同的氣體組合會對不同...

  • 2024-12-24

    反應離子刻蝕機是一種廣泛應用于半導體制造、微電子、微機電系統(tǒng)(MEMS)、光電子等領域的刻蝕技術。基本原理是利用等離子體中的化學反應和離子轟擊相結合,選擇性地去除材料表面的一層薄膜。反應離子刻蝕機的工作原理:1.等離子體的生成:RIE設備通過在低壓環(huán)境下向氣體中施加電場,使氣體分子發(fā)生電離,形成等離子體。等離子體是由自由電子、離子、原子、分子和自由基等組成的。這些離子和自由基可以與待刻蝕的材料發(fā)生反應或進行物理刻蝕。2.刻蝕過程:在反應離子刻蝕中,氣體分子被電離后會形成帶正電...

  • 2024-11-23

    全自動磁控濺射系統(tǒng)(MagnetronSputteringSystem)是一種廣泛應用于材料表面處理和薄膜沉積的設備,常用于電子、光學、半導體、太陽能、傳感器、裝飾等行業(yè)。濺射技術通過將高能離子轟擊目標材料,使目標材料原子或分子濺射到基材表面,從而形成均勻的薄膜層。磁控濺射系統(tǒng)則在傳統(tǒng)磁控濺射設備的基礎上,結合了自動化控制技術,提升了生產(chǎn)效率、薄膜質量以及操作的便捷性。全自動磁控濺射系統(tǒng)的工作原理:1.等離子體的形成:在真空室內,電源提供高電壓(一般為幾百伏特)在靶材和基材之...

  • 2024-10-26

    ICP等離子刻蝕機的工作原理基于利用射頻電源在反應室內產(chǎn)生高密度的等離子體,這些等離子體包含大量的活性粒子,如離子、電子、自由基等。在強電場的作用下,這些活性粒子與被加工的材料表面發(fā)生物理或化學反應,從而實現(xiàn)材料的去除。ICP等離子刻蝕機的技術特點:1.高密度等離子體源:采用感應耦合方式產(chǎn)生高密度等離子體,提高了刻蝕速率和均勻性。2.良好的各向異性:由于等離子體的方向性較強,ICP刻蝕機能夠實現(xiàn)高各向異性的刻蝕,有利于深寬比大的微結構的制備。3.寬工藝窗口:ICP刻蝕機能夠在...

  • 2024-10-10

    飛行時間二次離子質譜(TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry,TOF-SIMS)是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的原子或原子團吸收能量而從表面發(fā)生濺射產(chǎn)生二次粒子,這些帶電粒子經(jīng)過質量分析器后就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。SIMS用于在超高真空條件下分析固體樣品中元素、分子和同位素的分布和相對濃度,是zui靈敏的表面分析技術之一。SIMS可用于成像、光譜分析和深度剖面/三維分析。光譜分析模式可用于評估聚合物涂層的組...

  • 2024-09-25

    全自動磁控濺射系統(tǒng)是一種利用磁場控制電子運動軌跡,使電子與靶材發(fā)生碰撞并濺射出原子或分子,從而在基片上形成薄膜的設備。與傳統(tǒng)的磁控濺射設備相比,在結構上增加了自動化控制系統(tǒng),能夠實現(xiàn)對整個濺射過程的精確控制和自動化操作。主要由真空室、磁控濺射源、基片加熱器、真空測量與控制系統(tǒng)以及自動化控制系統(tǒng)等部分組成。其中,自動化控制系統(tǒng)是核心部分,它通過接收傳感器的信號,實時監(jiān)測濺射過程中的各項參數(shù)(如真空度、溫度、電流等),并根據(jù)預設的程序自動調整各項參數(shù),以保證薄膜的質量和一致性。廣...

  • 2024-09-13

    二次離子質譜法是一種高效的分析技術,利用化合物的離子化過程及其質量分析,以確定待測化合物的分子量、分子式和結構特征。質譜儀作為該方法的重要組成部分,通過將離子的質量進行有效分離,并依據(jù)電荷與質量比率輸出至檢測器,在此被探測并轉換為數(shù)字信號。簡介在質譜分析中,有三種常見的質譜儀離子分析器可用于離子的分離。四極桿質譜儀飛行時間質譜儀磁扇形質量分析儀四極桿質譜儀直流偏壓會使所有帶電分子加速并遠離中心線,其速度與它們的電荷與質量比成正比。當這些分子的軌跡偏離過大時,它們將撞擊金屬棒或...

  • 2024-08-29

    TOF-SIMS(TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry)飛行時間二次離子質譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質譜儀進行分析使用。鉍基液態(tài)金屬離子槍(LMIGs)是商業(yè)ToF-SIMS中常用的離子源。與金等其他LMIG源相比,鉍基離子源可以在較低的溫度下工作,并能產(chǎn)生用于分析的離子簇(例如Bi3+)。這些離子束可以緊密聚焦,以實現(xiàn)高空間分辨率(亞表面分析可通過在雙束模式操作來實現(xiàn),包...

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